題目描述
有n（2≤n≤20）塊芯片，有好有壞，已知好芯片比壞芯片多。
每個芯片都能用來測試其他芯片。用好芯片測試其他芯片時，能正確給出被測試芯片是好還是壞。而用壞芯片測試其他芯片時，會隨機給出好或是壞的測試結果（即此結果與被測試芯片實際的好壞無關）。
給出所有芯片的測試結果，問哪些芯片是好芯片。
輸入
輸入數據第一行爲一個整數n，表示芯片個數。
第二行到第n+1行爲n*n的一張表，每行n個數據。表中的每個數據爲0或1，在這n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的數據表示用第i塊芯片測試第j塊芯片時得到的測試結果，1表示好，0表示壞，i=j時一律爲1（並不表示該芯片對本身的測試結果。芯片不能對本 身進行測試）。
輸出
按從小到大的順序輸出所有好芯片的編號
樣例輸入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
樣例輸出
1 3
#include<iostream>
using namespace std;
int map[25][25];
int main()
{
int n;
cin>>n;
for(int i=1;i<=n;i++)
{
for(int j=1;j<=n;j++) cin>>map[i][j];
}
for(int j=1;j<=n;j++)
{
int num=0;
for(int i=1;i<=n;i++)
{
if(map[i][j]==1) num++;
}
if(2*num>n) cout<<j<<" ";
}
return 0;
}
思路
第j列是第j個芯片檢測其他芯片的情況，遍歷該列，得好芯片的數目，判斷是否符合要求。
我是程序媛，是用代碼改變世界的工程師。