光模塊測試CEI-28G-VSR 淺析1---背景基礎介紹

光模塊測試CEI-28G-VSR 淺析1---背景基礎介紹

100G光模塊的介紹中,一般都會宣稱電口支持CEI-28G-VSR協議. 那麼什麼是CEI-28G-VSR規範呢?我們從業內人士億創飛宇袁文傑那裏瞭解到以下內容:

CEI-28G-VSR是爲了保證光模塊插在主機中能正確將電信號傳輸給主機芯片,而主機芯片能夠正確的接受這些信息而定義的規範,反之一樣.如下圖所示:

 

所以可以理解爲CEI-28G-VSR就是對這些輸入輸出端口的特性進行定義, 以保證滿足此協議的同一廠家或不同廠家產品互相連接時不會出錯.CEI-28G-VSR協議應用範圍波特率從19.6G 到28.1G.

CEI-28G-VSR目標以及要求如下:

·         支持波特率19.6G到28.1G的NRZ編碼方式.

·         支持至少100mm的主機側PCB trace長度+連接器+最小50mm的光模塊內部PCB trace長度

·         支持的誤碼率要達到甚至優於1E-15,但實際測試只需要測到1E-12即可;

·         支持AC 耦合

·         支持並行傳輸

·         支持熱插拔

CEI-28G-VSR協議規定信號輸出端的輸入阻抗大於需要大於1K, 這個時候其實可以將信號發射端理解爲電壓源,電壓源的輸入阻抗越大,驅動能力越強,越不容易收到接收端的影響(如果是交流耦合,推測應該不受此限制), 這種差分接口支持不同電壓,不同I/O接口類型的互聯(比如CML/LVDS-like/PECL等).

CEI-28G-VSR對相關接口的定義同IEEE802.3類似, 但是由於CEI-28G-VSR只關注電口,所以重點在TP1/TP1a/TP4/TP4a這4個接口,其定義如下:

TP1a: host端芯片經過host trace+ connector+ HCB trace引出來的信號, 主要用來測試host發射端的信號性能.所以可以知道, 由於沒有辦法直接測到芯片輸出的性能,TP1a的測試結果是包含了host trace+ connector+ HCB trace 這3部分損耗的;

TP1: 用來測試光模塊電接收端的特性,測試中信號信號會經過MCB trace + connector + module trace的損耗.

TP4a: 用來測試Host接收端的特性,測試中信號會經過HCB trace + connector +host trace;

TP4: 用來測試光模塊電輸出端的特性,測試中信號信號會經過MCB trace + connector + module trace的損耗.

 

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