藍橋練習題：芯片測試

芯片測試：統計

題目：
本題的考察點是統計的知識。

這樣考慮一下：
對芯片A，如果它是“好的”，一方面，所有壞的芯片對A的檢測結果好壞各佔50%，另一方面，所有好的芯片對A的檢測結果都是“好的”，題意一開始也說了，芯片有好有壞，並且好芯片比壞芯片多，那麼綜合起來，A被檢測的結果是“好的”的概率>=50%
對芯片A，如果它是“壞的”，一方面，所有壞的芯片對A的檢測結果好壞各佔50%，另一方面，所有好的芯片對A的檢測結果都是“壞的”，綜合起來，A被檢測的結果是“好的”的概率<50%

經過上面的分析，就很容易判斷一塊芯片的好壞了，實際上就是看是否有至少半數的芯片（不包括被測試的芯片）對被測試的芯片的測試結果是“好的”，是，它就是“好的”，否則，它就是“壞的”。




代碼：

#include<bits/stdc++.h>
using namespace std;
const int MAX = 20+2;
int n, f;
int t[MAX][MAX], ans[MAX];

int main(){
	cin>> n;
	f = (n-1)/2;
	
	for(int i=0; i<n; i++){
		for(int j=0; j<n; j++){
			scanf("%d", &t[i][j]);
		}
	}
	
	for(int i=0; i<n; i++){
		for(int j=0; j<n; j++){
			if(i!=j && t[i][j]) ans[j]++;
		}
	}
	
	for(int i=0; i<n; i++){
		if(ans[i]>=f) printf("%d ", i+1);
	}
	
	return 0;
}